TDR眼图高频测试PCB铝合金治具typec贴片治具
一、高频测试的行业挑战
在5G与高速PCB领域,时域反射(TDR)眼图测试的精度直接决定信号完整性。传统测试治具存在三大痛点:
材料介电损耗导致信号衰减(FR4板材损耗角正切值>0.02)
热膨胀系数不匹配引发接触不良(CTE>25ppm/℃)
电磁屏蔽不足引入串扰(隔离度<30dB)
二、铝合金治具的三大创新
东莞路登科技采用7075航空铝合金+微弧氧化工艺,打造新一代测试平台:
超低损耗结构:介电常数εr=3.2±0.1(@10GHz),较传统材料降低40%信号衰减
精密热管理:CTE=23.6ppm/℃,与PCB基材匹配度提升60%
全屏蔽设计:双层镀铜+磁导率μ=1.2的复合涂层,隔离度达50dB@20GHz
三、核心技术参数
信号保真度
阻抗控制精度±5Ω(0-25GHz)
眼图张开度提升15%(对比FR4治具)
支持PCIe 5.0/112G PAM4协议测试
智能适配系统
气动压合压力0.1-5N可调(分辨率0.01N)
自动补偿温漂(±0.5Ω/℃)
兼容0.3mm-2.0mm测试点间距
效率革命
换型时间≤5分钟(模块化探针组)
支持多工位并行测试(最大8通道)
寿命达100万次(镀金探针硬度HV≥250)
四、客户价值实证
某半导体设备厂商应用后实现:
测试误判率从8.3%降至0.7%
单板测试周期缩短至12秒
通过IEEE 802.3ap 400G以太网认证
五、全周期服务
我们提供从仿真验证到量产支持的一站式方案:
免费提供3D电磁场仿真报告
终身免费软件算法升级
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铝合金治具:TDR眼图测试的精度革命
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