膜厚仪_镀层测厚仪_深圳市旭升发机电设备有限公司

产品简介：
            X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。
应用:
--RoHS/WEEE
--有害元素痕量分析
--焊料合金成分分析和镀层厚度测量
--电子产品中金和钯镀层的厚度测量
--五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
--贵金属合金分析和牌号鉴定
产品特点:
--100瓦X射线管
--25mm2PIN
--多准直器配置
-扫描分析及元素分布成像功能
--灵活运用多种分析模型
--清晰显示样品合格/不合格
--超大样品舱
--同时分析元素含量和镀层厚度
技术参数:
--元素范围:S(16)  to  U(92)
--可测镀层层数:5  层  (4  层+  底材),可同时分析25种元素成份
--X射线管功率:100W  (50kV  and  2mA)微焦点钨靶X射线管
--:25mm2  PIN  电制冷固态
--滤波器/准直器:最多可包含5个初级滤波器和4个准直器规格  (0.1,  0.2,  0.3,  1.27mm  ?)
--数字脉冲处理器:4096多道数据分析功能;自动数据处理,包括死时间修正
--电脑/显示器/系统软件
Celeron,  1.86  GHz,    40  GbHD,  512Mb  RAM,  相同或更高配置
    15”LCD,  1024  x  768
  MicrosoftTM  XP  SP2
--摄像系统:1/2”  CMOS-640x480  VGA  resolution
--电源:85~130V  or  215~265  V,  频率47Hz  to  63Hz
--工作环境:  10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水
--XYZ轴行程:    203  x  152  x  216  mm  (8  x  6  x  8.5”)
--最大样品尺寸
  305  x  390  mm  (12  x  15.4”)，样品高度为    50mm  (2”)
  305  x  352  mm  (12  x  13.9”)，样品高度为  203mm  (8”)
--舱室尺寸:      (W  x  D  x  H):584  x  508  x  220mm  (23  x  20  x  8.7”)
--外型尺寸
    高765mm  (30.1”)
宽  700mm  (27.5”),  840mm  (5.5”)  with  one  mouse  pad  extended
    深790mm  (31.1”),  990  mm  (39”)  with  keyboard  tray  extended

膜厚仪

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深圳市旭升发机电设备有限公司

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