介电常数及介质损耗测试仪，采用了多项领先术
介电常数及介质损耗测试仪介绍
HCJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T
1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC
60250）设计和制造的，并符合JB
7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。
HCJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪作为最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内最高的160MHz。采用了多项领先技术：
1.
双扫描技术
-
测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
2.
双测试要素输入
-
测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
3.
双数码化调谐
-
数码化频率调谐，数码化电容调谐。
4.
自动化测量技术
-对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
5.
全参数液晶显示
–
数字显示主调电容、电感、
Q
值、信号源频率、谐振指针。
6.
DDS
数字直接合成的信号源
-确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
7.
计算机自动修正技术和测试回路最优化
—使测试回路 残余电感减至最低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
介电常数及介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了完美的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高且更为方便。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。。
介电常数及介质损耗测试仪适用范围
该仪器用于科研单学、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
介电常数及介质损耗测定仪技术参数
Q
值测量范围
2 ～
1023
，
量程分档：
30
、
100
、
300
、
1000
，自动换档或手动换档
固有误差
≤
5
％
±
满度值的
2
％（
200kHz
～
10MHz
），
≤6％
±
满度值的2％（10MHz～160MHz）
工作误差
≤7％
±
满度值的2％
（
200kHz
～
10MHz
），
≤8％
±
满度值的2％（10MHz～160MHz）
电感测量范围
4.5nH ～
140mH
电容直接测量范围
1 ～
200pF
主电容调节范围
18 ～
220pF
主电容调节准确度
120pF 以下
±
1.2pF
；
120pF
以上
±
1
％
信号源频率覆盖范围
100kHz ～
160MHz
频率分段
（
虚拟
）
100 ～
999.999kHz
，
1
～
9.99999MHz,10
～
99.9999MHz
，
100
～
160MHz
频率指示误差
3 ×
10
-5 ±
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