冠层分析系统对叶片LAI值测定有什么优势
冠层分析系统对叶片LAI值测定有什么优势
通过将ELADP取不同的值,与LI-3000观测的LAI值进行对比,得出ELADP的最终率定结果为4。即如果用冠层分析系统测量大豆冠层LAI,将其ELADP参数设为4·0比较合适。用率定参数后的冠层分析系统测量的LAI与LI-3100测量结果相比,两仪器测量结果有很好的一致性,二者观测结果拟合的1∶1线回归方程显著,表明完全可以利用冠层分析系统测量冠层LAI,实现对LAI的方便快速动态测量。
不同密度情况下, 2个仪器观测结果通过配对t检验无显著差异,可以用冠层分析系统测量不同播种密度下的大豆叶面积指数。应用冠层分析系统测量时应在一日太阳高度角最高的时刻,一般为10: 00—14: 00为宜。为了使其具有更为广泛的应用,提高观测精度,应进一步针对不同作物冠层进行参数ELADP的率定。
冠层分析系统观测误差随生长期的变化可能与大豆的叶倾角生长季存在一定变化有关,由于统一设置ELDAP参数,产生了误差,但该误差很小,可以忽略。在播种后50~85 d观测结果偏高,原因可能与苗期叶片边缘阳光绕射较多有关;在播种96 d以后,植物非光合器官及枯黄叶片对光线的拦截作用导致冠层分析系统测量值偏高,可以通过进一步的长期试验率定参数。
资料来自：http://www.tpny17.com/ 冠层分析系统
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