比表面积及孔径分析仪_比表面积仪_北京金埃谱科技有限公司

比表面积及孔径分析仪V-Sorb  2800P测试结果准确性高，重复性好，仪器运行稳定，在比表面积、BET比表面积，比表面，孔径分布，平均孔径分布，孔体积，孔容积，孔结构，孔隙度，孔隙率，介孔分布，微孔分布测试方面广泛应用于下列领域：离子交换树脂，活性炭，碳纤维，碳纳米管，分子筛催化剂ZAM-5，Y型分子筛，X型分子筛，MCM介孔分子筛，细孔硅胶干燥剂，超级电容等，以及测试样品种类较杂的第三方检测机构。下面是比表面积及孔径分析仪V-Sorb  2800P的详细介绍：

V-Sorb  2800P比表面积及孔径分析仪主要性能参数：
比表面积及孔径分析仪极限真空：4x10－2Pa  (3x10－4Torr)
比表面积及孔径分析仪氮气分压：5x10－6－0.995
比表面积及孔径分析仪控制精度：测试压力点控制最小间隔可小于0.1  KPa
比表面积及孔径分析仪测试范围：0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积),0.35nm-400nm(孔径);
比表面积及孔径分析仪测试精度：测试结果重复性小于1.5%，最可几孔径重复精度  ≤0.02nm
比表面积及孔径分析仪测试效率：多点BET比表面每样平均20min  ，孔径分析时间随材质不同各异
比面积及孔径分析仪样品数量：2个样品比表面积分析和2个样品预处理同时进行
硅胶比表面积及孔径分析仪样品预处理：独立的样品预处理系统，与样品测试同时进行，最高处理温度可达400度。

V-Sorb  2800P比表面积及孔径分析仪主要报告结果：
吸附及脱附等温线测定
BET法比表面积测定（单点及多点）
吸附常数C值的测定
Langmuir法比表面积测定
BJH总孔体积及孔径分布分析
样品真密度测定
平均粒径估算
t-plot图法微孔分析
t-plot图法外比表面积测定
MP法微孔分析
HK法微孔分析（包括C-Y校正）
SF法微孔分析
D-R法微孔分析
D-A法微孔分析

V-Sorb  2800P比表面积及孔径分析仪核心硬件配置：
压力传感器：原装进口硅薄膜压力传感器，精度达实际读数的0.15％，优于全量程的0.15％，一只1000T压力传感器
真空泵：采用德国进口的真空泵，噪音小，运行稳定，防油返功能卓越，极限真空度高，可达4x10－2Pa  (3x10－4Torr)
液氮面控制：V-Sorb独创的液氮面控制系统，确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变，彻底消除因死体积变化引入的测量误差。配置4L大容量液氮杯，最少60小时无人介入连续分析。
V-Sorb  X800  系列比表面积及孔径分析仪是北京金埃谱科技有限公司在2009年推出的比表面积及孔径分析仪系列产品，一经推出即具备了2站式V-Sorb  2800系列比表面积及孔径分析仪和4站式V-Sorb  4800系列比表面积及孔径分析仪。因此，推出之初就很快占领市场最大份额，并在完全实现自动化，智能化方面引领国内同行。而且也弥补了国内静态容量法比表面积及孔径分析仪落后于国际先进技术的空白。V-Sorb  X800比表面积及孔径分析仪在测试结果的准确性、一致性和仪器运行的稳定性上上一经完全达到国际比表面积及孔径分析仪的先进水平。

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比表面积及孔径分析仪

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