比表面是比表面积的简称。比表面是指单位质量物料所具有的总面积。分外表面积、内表面积两类。单位为㎡/g。理想的非孔性物料只具有外表面积，如硅酸盐水泥、一些粘土矿物粉粒等；有孔和多孔物料具有外表面积和内表面积，如石棉纤维、岩（矿）棉、硅藻土等。测定方法有容积吸附法、重量吸附法、流动吸附法、透气法、气体附着法等。比表面是评价催化剂、吸附剂及其他多孔物质如石棉、矿棉、硅藻土及粘土类矿物工业利用的重要指标之一。石棉比表面的大小，对它的热学性质、吸附能力、化学稳定性、开棉程度等均有明显的影响。
全自动静态容量法比表面仪性能参数
比表面测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,样品真密度测定,t－plot图法外比表面积测定
比表面测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积)
比表面测量精度:重复性误差小于1.5%
比表面真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高比表面积测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命.
比表面液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差
比表面控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命.
比表面样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理
比表面压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr (0-1.33Kpa)(可选)
比表面压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15％)
比表面分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995
比表面极限真空:4x10－2Pa (3x10－4Torr)
比表面样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等
比表面测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr)
比表面数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强.
比表面数据处理:WINOOWs兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.
全自动静态容量法比表面仪特点
A.比表面仪真空系统
1)独创的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大降低漏气率,提高极限真空度.
2)模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩展,有利于维修更换.
3)采用中德合资的真空泵,噪音小,运行稳定,防油返功能卓越,极限真空度高,可达4x10－2Pa (3x10－4Torr)
B.比表面仪控制系统
1)采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,抗干扰能力强,稳定性大大提高,安装及拆卸都非常方便;
2)独特设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染.
C.比表面仪提高测试精度措施
1)采用与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜压力传感器,压力测量精度为相应读数的0.15％,远远优于0.15％的全量程精度(FS)传感器;
2)与国外同类产品类似,采用0－10Torr(可选)和0－1000Torr双压力传感器,对测试范围内的压力采用分段测量,大大降低了低真空下的测量误差,0－10Torr(可选)的硅薄膜压力传感器精度远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15％);
3)独创的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大减少死体积空间,有利于降低测量误差;
4)独创的步进式液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;
5)独特设计的抽气及进气控制系统,有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路的清洁和样品质量无损失,保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移.
D.比表面仪数据采集及处理
1)采用高精度及高集成度数据采集模块,连接方便,误差小,抗干扰能力;采用业界标准的485通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式;
2)多种理论计算模型数据分析,为用户提供全方位的材料分析方案;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理.
全自动静态容量法比表面仪应用领域
吸附剂(如活性碳,硅胶,活性氧化铝,分子筛,活性炭,硅酸钙,海泡石,沸石等);陶瓷原材料(如氧化铝,氧化锆,硅酸盐,氮化铝,二氧化硅,氧化钇,氮化硅,石英,碳化硅等);橡塑材料补强剂(如炭黑,白碳黑,纳米碳酸钙,碳黑,白炭黑等);电池材料(如钴酸锂,锰酸锂,石墨,镍钴酸锂,氧化钴,磷酸铁锂,钛酸锂,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物电池材料,碱锰材料,锂离子材料,锂锰材料,碱性材料,锌锰材料,石英粉,镁锰材料,碳性材料,锌空材料,锌汞材料,乙炔黑,镍氢材料．
F-Sorb X400系列4站比表面积测试及介孔径分布孔容孔隙率测量仪是目前国内同类产品中唯一完全自动化,智能化的产品,2008年、2009年和2010年连续3年国内市场销量第一,众多著名科研院所及500强企业应用案例. V-Sorb 2800 Series系列全自动智能比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪是金埃谱科技自主研发的比表面积及孔径检测仪器,采用静态容量法测量原理.相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.
金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中现金注册资本规模最大,唯一通过ISO9001质量认证的生产型企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!
北京金埃谱科技是北京市高新技术企业,位于我国著名的高校云集,中科院研究院所汇聚的北京高新技术产业区-中关村.公司起源和服务于中国兵器系统行业,依托当地人才资源和兵器系统技术优势,致力于科学分析仪器的研发,生产及销售.以创立兵器和民用行业国有知名品牌为发展宗旨,通过与兵器系统密切合作,同时借鉴国外先进技术,研发具有自主知识产权的自动化及智能化检测仪器,为我国科研单位及生产企业提供与国际产品接轨,高可靠性,高性价比的一流科研设备.目前主要产品有V-Sorb 2800 Series系列全自动智能BET法比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪,F-Sorb X400系列4站BET比表面积测试及BJH介孔径分布孔容孔隙率测量仪.
秉承兵器行业高标准,严要求的技术宗旨,并适应新形势下市场发展需求,倡导和坚持"技术为先,服务为本"的发展理念,我们为客户不仅仅提供高质量的产品,同时更注重高效的服务.公司拥有深谙业内需求,了解国际先进技术的研发团队及跨行业技术咨询专家,为研发具有国际先进水平产品提供强大的技术支持.目前已建立起严格的产品
898995850
