安捷伦Agilent 4294A电子仪器
工作频率
40 Hz 到110 MHz, 1 mHz 分辨率
基本阻抗精度
± 0.08%
Q 精度
Q = 100、测量频率小于10 MHz 时, ± 3% ( 典型值)
阻抗范围
3 mΩ 到500 MΩ*1
测量时间
测量频率大于500 kHz 、分辨率带宽= 1 ( 快速测量模式) 时, 3 ms /点
每次扫描点数
2 到801 个点
测量类型
四端子对测量(标准) 7 毫米毫米单端口测量(使用42942A),
可测量接地器件使用高阻探头测量(使用42941A), 可测量接地器件
阻抗参数
IZI、IYI、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q
直流偏置
0 到± 40 V/100 mA, 1 mV/40 μA 分辨率恒定电压/
恒定电流模式, 直流偏置V/I 监测功能
测量信号的电平
5 mV 到1 V rms; 200 μA 到20 mA rms 测量信号电平V/I 监测功能
扫描参数
频率、测量信号的电平(V/I)、直流偏置(V/I)
扫描类型
线性、对数、列表: 手动扫描模式: 向上/向下扫描
其他功能
等效电路分析功能，限制线功能迹线累加模式
游标
8 个游标(1 个主游标和7 个子游标) 差值游标功能，游标搜索功能
(、***小、峰值、下一峰值等) 游标分析功能
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元器件测量
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无源器件
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测量两个端口或引线的器件的阻抗，包括电容器、电感器、
铁氧体磁珠、电阻器、变压器、晶体/陶瓷谐振器、
多芯片模块或阵列/网络元器件。 |
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半导体元件
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变容二极管的 C-V 特性分析
对二极管、晶体管或 IC 封装端子/引线的寄生参数进行分析。
放大器输入/输出阻抗测量。
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其他元器件
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测量印刷电路板、继电器、开关、电缆和电池等元件的阻抗。
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材料的测量
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电介质材料
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测量塑料、陶瓷、印刷电路板及其它电介质材料的介电常数和损耗角正切值。
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磁性材料
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测量铁氧体、非晶硅和其它磁性材料的导磁率和损耗角正切值。
半导体材料半导体材料的电容率、导电性和 C-V 特性。
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