供应德国EPK|EPK720|730|740涂层测厚仪
德国EPK|EPKMiniTest720|730|740系列涂层测厚仪
MiniTest  720  /  730  /  740  系列涂层测厚仪
  
产品特点：
　　  新的MINITEST  700产品线，加强了德国EPK(Elektrophysik)公司在全球涂层测厚市场的领导地位。
-创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性
-测量范围达15mm，可F、N或FN探头，提供内置或外接探头
-FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体，操作方便不易出错  
?    SIDSP使测量不受干扰，测值更加精确  
?    可更换探头使用更加灵活(MINITEST  740探头可由内置换为外置)  
?    FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误  
?    温度补偿功能避免温度变化引起的错误  
?    生产过程中50点校准使仪器获得高精确度的特征曲线  
?    大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数  
?    读数和统计值能单独调出  
?    超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转  
?    菜单指引操作，25种语言可选  
?    带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC  
?    可下载更新软件  

技术参数
主机型号    MINITEST  720    MINITEST  730    MINITEST  740
探头类型    内置    外置    内置外置可换
数据记忆组数    10    10    100
存储数据量    最多10,000个    最多10,000个    最多100,000个
统计值    读值个数、最小值、最大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置)
校准程序符合国际标准和规范    ISO、SSPC、瑞典标准、澳大利亚标准
校准模式    出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准，使用者可调节补偿值
极限值监控    声、光报警提示超过极限
测量单位    μm，mm，cm；mils，inch，thou
操作温度    -10℃~60℃
存放温度    -20℃~70℃
数据接口    IrDA  1.0(红外接口)
电源    2节AA电池
标准    DIN  EN  ISO  1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM  B244，B499，D7091，E376
AS  3894.3，SS  1841  60，SSPC-PA  2
体积    157mm  x  75.5mm  x  49mm
重量    约175g    约210g    约175g(内置)/230g(外置)

探头：
探头特性    F1.5，N0.7，FN1.5    F2    F5，N2.5，FN5    F15
    F    N    F    F    N    F
测量范围    0~1.5mm    0~0.7mm    0~-2mm    0~5mm    0~2.5mm    0~15mm
使用范围    小工件，薄涂层    粗糙表面    标准探头，使用广泛    厚涂层
测量原理    磁感应    电涡流    磁感应    磁感应    电涡流    磁感应
信号处理    探头内部32位信号处理(SIDSP)
精确度    ±(1μm+0.75%)    ±(1.5μm+0.75%)    ±(5μm+0.75%)
重复性    ±(0.5μm+0.5%)    ±(0.8μm+0.5%)    ±(2.5μm+0.5%)
低端分辨率    0.05μm    0.1μm    1μm
最小曲率半径(凸)    1.0mm    1.5mm    5mm
最小曲率半径  (凹，外置探头)    7.5mm    10mm    25mm
最小曲率半径  (凹，内置探头)    30mm    30mm    30mm
最小测量面积    Φ5mm    Φ10mm    Φ25mm
最小基体厚度    0.3mm    40μm    0.5mm    0.5mm    40μm    1mm
连续模式下测量速度    每秒20个读数
单值模式下最大测量速度    每分钟70个读数

MINITEST700系列涂层测厚仪标准配置
-MINITEST  720(内置探头)
--或MINITEST  730(外置探头)
--或MINITEST  740主机(不含探头，有各种探头可选)
-校准套装含校准片和零板
-操作使用说明CD，德语、英语、法语、西班牙语
-中文说明书
-2节AA电池
-便携软包        

推荐配件
-F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架      


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