供应ComPact 5PIN型X射线荧光分析测厚仪
Compact 5PIN型X射线荧光分析测厚仪
X-Ray Fluorescence Analyser with Semiconductor Detector
Compact 5/5PIN ：轻巧的设计，半开放式测试箱，可容纳大件的PCB产品，功能强大，可配合激光自动对焦，全方位自动样品台等功能使用。适合中小工件及PCB等产品行业。Compact 5 PIN更配备了半导体电子冷却检测器，令分辨率数倍提高，可测量非常薄的镀层，满足于半导体电子工业的应用。
安全性能：
通过德国PTB安全验证，符合德国最高安全法规标准。
可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U)
可测量厚度范围：
22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
准直器：0.1mm 0.3mm 0.1mm×0.3mm 。
可选四个组合：0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm
50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um
自动测量功能：
编程测量，自定测量
修正测量功能：
底材修正，已知样品修正
综合性能：
镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析：
可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您节省购买标准片的成本。完全超越其他品牌的FP软件。
镀液分析：
可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液。
定性定量分析：
光谱表示，光谱比较，可定性分析20多种金属元素；并可合金成份分析，可定量分析成分含量。
光谱对比功能：
可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度。
统计功能：
x管理图，x-R管理图，直方柱图，能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质。
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