供应膜厚测量仪
CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量 ，从质量管理到成本节约有着广泛的应用
行业
用于电子元器件，半导体，PCB，端子连接器，LED支架和封装，汽车零部件，卫浴洁具，功能性电镀，装饰件，检测机构和高校……多个行业表面镀层厚度的测量
技术参数
主要规格
X射线激发系统
垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：W靶
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准
装备有安全防射线光闸
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统
最多可同时装配6种规格的准直器
多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸
在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
样品室
CMI900
－样品室结构
开槽式
－最大样品台尺寸
610mm x 610mm
－XY轴程控移动范围
标准：152.4 x 177.8mm ；还有5种规格任选
－Z轴程控移动高度
43.18mm
－XYZ三轴控制方式
多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
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