供应SII精工SEA1000AII能量色散型X射线荧光元素
2010              发布具有自动定位机能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110

发布高灵敏度,稳定性,再现性的超高灵敏度型差示扫描热量计(DSC)
  
                    
2009      公司本部迁至千叶市      同英国Nu  Instruments公司合作，共同销售高分辨率ICP质量分析仪  
                    
2008              发布具有差分扫描功能的X射线荧光分析装置SEA6000VX  
                  
  
2007
        神奈川县横浜市设立横浜实验室
        
  
    
2006      发表与德国Carl  Zeiss  NTS公司共同开发、销售的战略的业务合作。          
    
2005      2005  美国Radiant  Detector  Technologies,LLC和Photon  Imaging  Inc.把X射线检测器事业转给SII  NanoTechnology  USA  Inc.      在世界上率先销售配备有FIB、SEM、Ar离子束的三倍电子束仪器(SMI3000TB系列)  
    
2005      公司本部迁至：日本国东京都中央区          
    
2005      在美国加利福尼亚设立SII  NanoTechnology  USA  Inc.      发布可对应65纳米半导体制程工艺的光掩膜修复用聚焦粒子束（SIR7000FIB）  
    
2004              发布与松下电器产业有限公司共同开发的有害物质判定软件（HS  Easy）  
    
2004      2004  在中国上海设立百分之百全额投资的精工盈司电子科技(上海)有限公司。      发布分辨率4mm的FIB和高性能SEM的复合仪器    （SMI3000SE系列）  
    
2004              发布采用无需液氮检测器的有害物质测量仪（SEA1000A）  
    
2003      由于公司分割继承了精工电子股份有限公司  的科学仪器事业，同时也获得了销售科学仪器保养消耗品的有限公司（EPOLEAD）的股份      发布分辨率4纳米的聚焦离子束（SMI3000系列）  
    
2003      SII  Microscope更名为SII  Nano  Technology          
    
2002              发布可对应90纳米半导体制程工艺的光掩膜修复用聚焦粒子束（SIR5000）。  
    
2001              在世界上率先开发75W高输出微小区域膜厚仪，对应微小区域测量（SFT9300系列）。  
    
2000      精工电子股份有限公司以开发制造销售小型探针显微镜为目的，设立了公司的前身SII  Microscope      发布分辨率为5纳米的扫描离子显微镜（SMI2000系列）  
    
1999              1999  发布配备有CCD检测器的能同时测量多种元素的ICP等离子体发射光谱仪（SPS5000）  
    
1999              发布小型的便携式X射线荧光元素分析仪（SEA200）  
    
1998      日本小山工厂取得  ISO14001  认证      发布多功能型SPM系统（SPA-400）  
    
1998              1998  发布台式小型探针显微镜（Nanopics）  
    
1997      精工电子工业更名为精工电子股份有限公司          
    
1996              发布对应0.18微米设计规则的光刻掩模板(Photo  mask)黑白缺陷修正装置(SIR3000)  
    
1995              发布环境管制型SPM（SPA-300HV）  
    
1995      精工电子工业以科学仪器产品的保养、消耗品的销售为目的,设立Epolead有限公司      发布扫描型近视野观察用原子力显微镜（SNOAM）  
    
1994              发布分辨率为10纳米的离子显微镜（SMI9000系列）  
    
1994              使用对应微小区域测量的X射线荧光元素分析仪在世界上率先实现微小区域50Φμm光束  
    
1992              采用微聚焦技术的管球在世界上率先采用微小区域Φ50μm的准直器（SFT3000系列）  
    
1991              发布原子间力显微镜（AFM）（SFA300）  
    
1990              发布多功能扫描型探针显微镜对应的探针station(SPI3600)  
    
1988              采用独自开发的半导体检测器，在世界上率先发布对应微小区域的X射线荧光膜厚仪（SFT8000）  
    
1987              在日本国内率先发布STM（SAM3000）  
    
1987              发布配备真空分光器的ICP等离子体发射光谱仪（SPS1200V）  
    
1986              发布多功能热分析系统SSC5000系列  
    
1986              发布FIB分辩率为50纳米的FIB截面加工观察仪（SMI8000系列）  
    
1986              在电子技术综合研究所的指导下，在日本国内率先成功使用STM观察原子图像  
    
1985              SIR1000掩膜修正专用仪器的商品化：利用聚焦粒子束FIB的沉积和刻蚀功能完成对掩膜上纳米级缺陷的修正  
    
1983      第二精工舍更名为精工电子工业股份有限公司          
    
1980              发布了日本国内第一个由电脑控制的连续型ICP等离子体发射光谱仪（JY-38PⅡ）  
    
1979              在世界上率先发布热重－差热综合分析仪TG/DTA（SSC560G、SSC560GH）  
    
1978              发布多波道型ICP等离子体发射光谱仪（JV48P）  
    
1978              在世界上率先发布不使用放射性同位元素的对应微小区域的台式X射线荧光膜厚仪。（SFT155/156）  
    
1978              在世界上率先在热分析仪器中导入电脑技术（SSC560）  
    
1974              推出绝热扫描型微小热量仪（SSC510  
    
1973      第二精工舍在静冈县骏东郡小山町设立小山工厂，作为科学仪器事业的制造点      推出分析石油中硫黄的X射线荧光元素分析仪（SFA130）  
    
1972      第二精工舍为了制造和销售分析?计量仪器设立科学仪器部          
    
1971              发布做为商品条形码、开发原子吸光光谱强度计、热分析装置、