GAT通用自动测试系统平台适用于军用及民用电子产品生命周期的器件选型、研发测试、DVT（设计验证测试）、可靠性试验、生产过程控制等关键环节。通过系统平台的导入，能够快速为用户搭建产品的测试验证系统和柔性生产线，使产品得到全面精准的测试，有效降低产品研发投入及生产测试成本。同时，通过制程的质量控制及对测试数据的实时分析，及时发现产品研发、生产的各关键环节的异常问题，帮助用户深度发掘产品潜在问题，满足不同用户的使用需求。
◆ 通用性：源于实践，广泛适用于民用通信、射频微波、军工电子等行业的研发调测、生产测试、可靠性试验、外场试验等应用场景。
◆ 兼容性：所有产品测试用例集中于同一平台，支持多品牌仪表兼容互换。
◆ 安全性：按用户进行权限管理，权限细化到每个功能点及产品。
◆ 高效性：产品自动测试用例的快速搭建，通过引入自动化工装、开关矩阵实现一键测试，提升测试效率。
◆ 可扩展性：系统功能模式、仪器设备驱动库和测试脚本均可重构与扩展，还可以基于开发的接口进行二次开发工作。
◆ 平台化：平台化架构设计，采用搭积木式模块构建，集成编译器和调试器组件。
◆ 网络化：系统采用C/S架构构建，支持单机运行，同时支持多个测试工位组网，实现多工位测试数据统一存储，数据实时分析
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