HP 惠普 4156A 半导体测试仪 晶体管测试仪
描述
N4156A高性能测量解决方案提供快速精确的插入损耗(IL)与偏振相关损耗(PDL)测量，设置简便，能在研发与制造环境中很好地提供波长相关光器件的特性描述。
将测试成本降至最低、把吞吐量增至最高
该系统设置简便，特为多路转换器/信号分离器或滤光器等关键DWDM无源器件的启动制造商设计。在研制和最后测试中，此类器件的制造商需要高性能的测量解决方案，从而提高吞吐量与产量，降低成本。
本产品的卓越优点是：
通过缩短面市时间，降低测试成本
N4156A包括光子分析工具箱，该工具箱系可执行测量应用软件，带有一个便捷的用户界面，用于插入损耗和偏振相关损耗的测量以及光谱转移功能的分析。
光基础程序库(PFL)也是N4156A的组成部分, 综合汇集了光器件测量与分析中最广为使用的功能。 它包括精密测量与仪器控制功能，具有完备的数据分析与处理能力。 有了PFL，就能方便快捷地执行量身定制的测量任务以及具有批量处理能力的测试解决方案。
高产出来自卓越的系统性能。
由于N4156A的波长不确定性为±1 pm，波长分辨率为0.5 pm，因此用它分析超窄带器件（小于等于25 GHz）能有上佳表现。
系统拥有高性能可调谐激光光源与低PDL功率传感器，因此能获得最准确的插入损耗与偏振相关损耗结果。
PFL经过是德硬件产品的适用优化，通过内嵌的测量技术诀窍，进一步提高了测量的准确性。这包括自动采用功率计平均次数，用于偏振相关损耗测量的先进 Mueller方法，纠正扫频波长系统中的延迟和失真效应。
灵活性强，投资有保障。
N4156A建立在是德处于市场领先地位的光波测量系统，将满足现在和未来的测试要求。 额外多重通道和其他种类的测试设备可以很方便地添加到N4156A输入层设置上。
投资回报
N4156A与经过实践检验的是德部件相结合，能够提供具有良好成本效益的测试解决方案。
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