电子元器件试验方法科文厂家
科文公司不断精益求精,创造符合国际规范要求的优质产品,客户产业遍及于电子元器件、电子配件、电池、锂电池、新能源等，厂家直销高温老化试验箱、电路板高温老化箱、。www.kowintest.cn
在GJB548B-2005中主要讲述的试验方法有低气压(高空工作)、浸液、绝缘电阻、耐湿、稳态寿命、间歇寿命、模拟寿命、稳定性烘焙、盐雾(盐汽)、温度循环、热冲击、热性能、漏点、密封、老炼试验、寿命/可靠性试验、中子辐射、内部水汽含量、电离辐射(总剂量)试验程序、剂量率感应锁定试验程序、数字微电路的剂量率翻转试验、MOS场效应晶体管阀值电压、线性微电路的剂量率响应和翻转阀值、密封前老炼、薄膜腐蚀试验、封装引起的软错误试验程序、写/擦疲劳寿命、染色渗透试验、恒定加速度、机械冲击、可焊性、引线牢固性、振动疲劳、振动噪声、扫频振动、外部目检、内部目检(单片)、键合强度(破坏性键合拉力试验)、X射线照相、破坏性物理分析(DPA)的内部目检、内部目检和结构检查、耐溶剂性、外形尺寸、内部目检(混合电路)、扫描电子显微镜(SEM)检查等。
GJB548B-2005中还有很多检测项目，例如芯片剪切强度、粒子碰撞噪声检测试验、玻璃钝化层完整性、可焊性(浸润法)、非破坏性键合拉力试验、玻璃熔封盖板的扭矩试验、引线涂覆附着力试验、随机振动、芯片粘结强度、针栅阵列式封装破坏性引线拉力试验、陶瓷片式载体焊接强度(破坏性推力试验)、芯片粘接超声检测、倒装片拉脱试验、无源元件目检、载带自动焊焊接质量超声检测、破坏性物理分析、极限试验等等。(东莞市科文试验设备有限公司188*2559*7669)
目前GJB548B-2005已经代替了原GJB548A-1996，此标准全称微电子器件试验方法和程序，标准主要讲述了标准所适用的范围、引用文件、术语和定义、一般要求、试验方法的编号、试验结果、试验样品的处理、器件的取向、试验条件及详细要求和一般需注意事项。
898995850
