进口测厚仪27MG选购附件介绍
双晶探头测量模式 从激励脉冲后的精确延迟到第一个回波之间的时间间隔。
厚度范围 0.50 mm ~ 635 mm(0.020 in. ~ 25.0 in.)取决于材料、探头类型、表面条件和温度。
材料声速范围 0.508 mm/μs ~ 18.699 mm/μs(0.020 in./μs ~ 0.7362 in./μs)
分辨率(可选择) 低:0.1 mm(0.01 in.)
标准:0.01 mm.(0.001 in.)
探头频率范围 2.25 MHz ~ 10 MHz(–3 dB)
操作温度范围 -10 °C ~ 50 °C(14 °F ~ 122 °F)
键盘 密封、以色彩区分功能的键盘,带有触感及声音反馈
机壳 防撞击、防水、装有密封垫的机壳,机壳上的接口密封。设计符合IP65。
外型尺寸(宽 x 高 x 厚) 84.0 mm x 152.4 mm x 39.6 mm(3.31 in. x 6.0 in. x 1.56 in.)
重量 340 g(12 oz)
27MG测厚仪校准:
27MG校准程序对探头进行调整使仪器可以在某种特定温度下使用某种特定探头对某种材料进行精确地测量。校准程序包括:
→探头零位补偿
→材料声速校准或校准声速
→零位校准或校准零位
在不知道材料声速时,要使用一个与被测速材料相同的校准块进行材料声速校准,在直到材料声速的情况下可以,可以直接输入声速。