测量原理图2中位移传感器下方设置一个托板，用传感器测出托板与传感器间距L0，当托板上方放置被测物时，可用传感器测得被测物与传感器的间距L1。
将L0和L1的信号传输到计算机内装的测量系统后，即可计算(L0-L1)得出被测物的厚度H。在实际应用中，L0的数值将直接写入测量系统(系统还自带L0的较零功能)，在被测物放置到托板上后即可得出被测物的厚度。
利用这两种基本测量原理，我公司生产有多种测厚仪，激光测厚仪相对于超声波测厚仪精度更高，相对X射线测厚仪没有辐射污染。是高性能的厚度检测设备。
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