半导体测试机V777
◆产品介绍：
◆ Test Rate 10MHz
◆ 主要構成機器
外形寸法：532W×692H×750D
重量：約100kg
◆测试标题
外形寸法：430W×271H×511D
◆ TESTER CONTROLLER
◆ 128 I/O Pin
◆ 4 個同時測定
◆ 省空间、低耗电
◆ TESTER 本体
重量：約50kg
本体： PC-AT 互換機
PROCESSOR： x86 系
储存容量： 512MB
硬盘容量： C DRIVE(驱动盘) 30GB D DRIVE 40GB 以上（内蔵）
INTERFACE： Ethernet、GPIB（OPTION）
操作系统： WINOOWs XP
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