菲希尔FISCHERSCOPE XDV-μ镀层厚度测量仪
X 射线荧光测试仪，配有多毛细孔 X 射线光学系统，可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。
FISCHERSCOPE XDV-u镀层厚度测量仪特点
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优化的微区分析测试仪器
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根据X射线光学系统，可以对100 μm或更小的结构进行分析
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极高的能量强度，从而实现出色的精度
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即使对于薄镀层，测量的不确定度也有可能做到 < 1 nm
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只适用于平面的或是接近平面的样品
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底部C型开槽的大容量测量舱
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通过快速、可编程的 XY 工作台进行自动测量
FISCHER XDV-u镀层厚度测量仪典型应用领域
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测量印刷线路板、引线框架和芯片上的镀层系统
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测量细小部件和细电线上的镀层系统
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分析微小结构和微小部件的材料成分
X射线测厚仪原理
XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
X射线测厚仪适用范围
XRAY测厚仪适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，XRAY测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。
菲希尔电解测厚仪 - 用于库仑电量分析的涂层厚度测量仪器。
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