德国菲希尔FISCHERSCOPE? X-RAY XDV?-SDD高性能荧光测试仪
配有可编程XY平台和Z轴，可自动测量超薄镀层和分析痕量元素
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD荧光测试仪仪器特点
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高级型号仪器，具有常见的所有功能
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射线激发量的灵活性很大，激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变
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通过硅漂移探测器，在 > 10万cps（每秒计数率） 的超高信号量下也可以正常工作，而不会出现能量分辨率的降低
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极低的检测下限和出色的测量重复度
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带有快速、可编程 XY 工作台的自动测量仪器
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大容量便于作的测量舱
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD荧光测试仪典型应用领域
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测量极薄的镀层，例如应用于电子和半导体行业中
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痕量分析，例如根据 RoHS、玩具标准、包装标准对有害物质进行检测
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进行高精度的黄金和贵金属分析
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光伏产业
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测量 NiP 镀层的厚度和成分
X射线测厚仪原理
XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
X射线测厚仪适用范围
XRAY测厚仪适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，XRAY测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。
菲希尔电解测厚仪 - 用于库仑电量分析的涂层厚度测量仪器。
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