FISCHERSCOPE XDLM X射线荧光测厚仪
用于对电路板、电子元件和批量零件的涂层厚度进行手动或自动测量，也适用于小型结构
X射线荧光测试仪，可在微小样品上，手动或全自动测量印刷线路板、电子元件和大规模生产零部件上的镀层厚度。包括镍层测厚、化镍厚度等。
FISCHERSCOPE XDLM X射线荧光测厚仪特点
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通用性极广，因为配备了微聚焦管、4个可切换准直器和 3 个基本滤片
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适用于微小结构，如接插件或线路板
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还适用于远距离测量（DCM方法，范围0-80 mm）
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底部C型开槽的大容量测量舱
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可编程的台式设备，用于自动测量
FISCHERSCOPE XDLM X射线荧光测厚仪典型应用领域
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测量印刷线路板工业中，薄金、钯和镍镀层。镍层测厚、化镍厚度
X射线测厚仪原理
XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
X射线测厚仪适用范围
XRAY测厚仪适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，XRAY测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。
菲希尔电解测厚仪 - 用于库仑电量分析的涂层厚度测量仪器。
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