FISCHERSCOPE XAN 252 X射线荧光测量仪概述：
高性能X射线荧光测量仪，配有非常先进的硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。
FISCHERSCOPE XAN 252 X射线荧光测量仪特点：
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高性能机型，具有强大的综合测量能力
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配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片
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配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，还适用于更复杂的多元素分析
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由下至上的测量方向，可以非常简便地实现样品定位
FISCHERSCOPE XAN 252 X射线荧光测量仪典型应用领域：
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对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量
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对有害物质进行痕量分析，例如，玩具中的铅含量
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在珠宝和手表业，以及在金属精炼领域，对合金进行高精度的分析
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用于高校研究和工业研发领域
X射线测厚仪原理
XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
X射线测厚仪适用范围
XRAY测厚仪适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，XRAY测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。
菲希尔电解测厚仪 - 用于库仑电量分析的涂层厚度测量仪器。
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