XULM镀层厚度测量仪的特点

• 用途广泛的镀层厚度测量仪，包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等。
• 通过组合可选的高压和滤片，可以对较薄的镀层（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和较厚的镀层进行同样效果的测量.
• 配有的微聚焦管，可以测量100 μm大小的微小测量点。
• 比例计数器可实现数千cps（每秒计数率）的高计数率。
• 从下至上的射线方向，从而可以快速简便的放置样品。
• 底部C型开槽的大容量测量舱  。

菲希尔FISCHERSCOPE XULM X射线荧光测试仪典型应用领域

• 测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/B 或 Sn/Cu/B中的镀层
• 电子行业中接插件和触点上的镀层
• 装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS
• 电镀镀层，如大规模生产零件（螺栓和螺母）上的防腐蚀保护层Zn/Fe，ZnNi/Fe
• 珠宝和钟表工业。
• 测量电镀液中金属成分含量，例如金层测厚、银层测厚。

        对于FISCHERSCOPE?X-RAYXUL和XULM系列来 说，X射线源和接收器位于测量室的下方，这样 可以快速方便地定位样品。除此以外，视频窗口 也可以辅助定位，仪器前方的大控制台简化了 作，特别是在日常生产中测量大量部件时特别有 用。 尽管结构紧凑，但这些仪器都有大容量的测量 室，这样大的物品也可以测量。壳体的开槽设计 （C型槽）可以测量诸如印刷线路板类大而平整 的样品，即使这些样品可能无法完全放入测量 室。
        样品直接放置在平整的支撑台上，或者定位精度 更高的手动XY工作台上。 XUL和XULM都配备了比例接收器；但是它们配 备的X射线管，滤片和准直器是不同的。便宜耐 用的XUL配备了一个准直器和一个固定的滤片。 内置的标准X-RAY管产生的基本射线光束较大； 因此***小可用的准直器为0.3 mm。基于光线的 扩散，***小的测量点在0.7 mm – 1mm左右。
        XULM适合测量小的结构。它配备了微聚焦管， 测量点***小可达约100μｍ，同时比例接收器仍 然可以保持相对高的计数率。即使很短的测量时 间也可以达到很好的重复精度。此外，XULM配 备了可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地 为不同的测量应用创造非常好的激励条件。

        应用实例：

        菲希尔FISCHERSCOPE XULM X射线荧光测试仪特别适合测量细小的部件如连接器，触点 或线，也可以测量印刷线路板上的Au，Ni和Cu 镀层厚度。即使80nm的超薄的金镀层也可以用 测量点为?0.25mm的准直器测量，20秒的重复 精度可达2.5nm。
        特征
        带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口 和钨靶的微聚焦X射线管。
        工作条件:50KV,50W X射线探测器采用比例接收器
        准直器：固定或4个自动切换，0.05 x 0.05 mm 到 ? 0.3 mm 基本滤片：固定或3个自动切换 测量距离可在0-27.5mm范围内调整 固定的样品支撑台或手动XY工作台 摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量 位置。刻度线经过校准，显示实际测量点 大小。 设计获得许可，防护全面，符合德国X射 线条例第4章第3节

        典型应用领域
        线路板行业Au/Ni/Cu/B或Sn/Cu/B 等镀层的测量 电子行业接插件和触点的镀层测量 electronics industry 装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS 批量生产部件（螺丝和螺母）防腐镀层测 量，如Zn/Fe、ZnNi/Fe 珠宝和手表行业 测定电镀槽中的金属含量

　　X射线测厚仪原理