在工业过程控制分析中，分析仪器的灵敏度、精度及分析速度是至关重要的。SPECTRO iQ II 在这一领域已建立了相应标准。全新的SPECTRO iQ II 在此基础上进一步改进了技术，提高了操作简便性和可靠性。
荧光光谱仪从样品激发到计算机报出元素分析含量只需20-30秒钟，速度非常快，有利于缩短冶炼时间，降低成本。特别是对那些容易烧损的元素，更便于控制其最后的成份。
在许多情况下，荧光光谱仪SPECTRO iQ II 在测定主要成分的精度及重要痕量元素的灵敏度可以同价格昂贵的波长色散型X荧光光谱仪相媲美。以往只能用波长色散型X荧光光谱仪完成的分析任务，现在通过SPECTRO 独特的偏振能量色散型仪器即可出色地完成。
SPECTRO iQ II 它采用低能量X射线管和最新开发的C－Force 偏振光学系统，确保了对样品中元素的最佳激发。使用Pd准直器，SPECTRO iQ II 具有分析低含量Zr、Mo等元素的能力。在仅仅几百秒的分析时间内，即可测定油中的超低硫含量。因此，最新开发出的SPECTRO iQ II 具有极佳的分析轻元素的能力。
SPECTRO iQ II 软件的特点：简单明了。图文式用户操作界面，使日常操作所相关的重要功能清晰明确。触屏操作，更为简单直观。
技术参数：
荧光光谱仪SPECTRO iQ II采用低能量X射线管和最新开发的C－Force 偏振光学系统，确保了对样品中元素的最佳激发。使用Pd准直器，SPECTRO iQ II具有分析低含量Zr、Mo等元素的能力。在仅仅几百秒的分析时间内，即可测定油中的超低硫含量。因此，最新开发出的SPECTRO iQ II具有极佳的分析轻元素的能力。
主要特点：
在许多情况下，荧光光谱仪SPECTRO iQ II 在测定主要成分的精度及重要痕量元素的灵敏度可以同价格昂贵的波长色散型X荧光光谱仪相媲美。以往只能用波长色散型X荧光光谱仪完成的分析任务，现在通过SPECTRO 独特的偏振能量色散型仪器即可出色地完成。
检查直读光谱仪的重要参数
(1)出射狭缝的一致性
出射狭缝的一致性就是每个元素通道都对准了出射狭缝。
在仪器出厂前已进行了精心调整和严格的考核。但由于长途运输过程中受到震动，可能引起元素谱线与狭缝的位置产生一些微小变化。因此在安装调试时必须进行全面的检查。检查前首先启动局部恒温系统，经4小时后，分光室内的温度逐渐达到平衡状态。此时采用描迹的方法扫描各元素分析线的峰值位置，与某一基准谱线(一般为内标元素的谱线)的峰值位置进行比较。当两者之差大于±5个格时，需重新调整光路，此项工作由仪器制造厂的有经验的技术人员进行。
(2)灯曝光检查法
测控系统的精度与分析精度关系极大，灯曝光的检查是非常行之有效的方法。
在分光室内有一只小型白炽灯，平时照射于光电倍增管的光阴极上，常期照射使光阴极处在疲劳状态。此小灯称为疲劳灯。其亮度十分稳定，可以作为光源代替高压火花光源，用以检查测控系统的重复测光精度。疲劳灯发出的光，照射在倍增管的光阴极上，进行光电转换，这一过程叫灯曝光。
当RSD>0.2％时，说明测量精度下降，需要对包括倍增管在内的测量系统需要调整，有关部位需要修理。
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