半导体蒸汽老化寿命试验仪,蒸汽老化试验箱
仪器用途：
蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、电镀产品、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示，PID+SSR控制，白金电阻温度传感器（PT100），分辨率0.1℃，全自动安全保护装置。
半导体蒸汽老化寿命试验仪,蒸汽老化试验箱 技术参数：
仪器型号：FLR-210 蒸汽老化试验箱
内部尺寸：500×400×170（W×H×D）mm ；
外部尺寸：600×500×420（W×H×D）mm ；
箱体材质：SUS304#优质不锈钢板；
保温层：PV发泡胶
升温时间：大约40分钟 ；
控制功能：PID+SSR,数字式显示；
蒸汽温度：RT～97℃ ；
计时功能：1～9999H/M/S，附时到报警功能，时间到达后切断电源 ；
水位控制：低水位报警功能 ；
仪器电源：1? 220V±10% 50Hz
仪器重量：30KG
半导体蒸汽老化寿命试验仪,蒸汽老化试验箱 结构特点
蒸汽老化试验箱整体不锈钢SUS #304 制成，操作设定简易
微电脑数位LED控制，具时间规划功能，最大可设定9,990Mins
多重超温保护/缺水切电热等安全装置。
零件、连接器被动元件，半导体接脚高温高湿氧化试验。
金属接脚沾锡性试验加速老化试验。
采用式PID+SSR温度控制器，同时具有时间计时功能，最大可设定9990分式无限。
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