便携式XRF（X 射线荧光光谱仪）的检测深度无固定标准，核心处于纳米级至数百微米区间，其数值波动由样品材质、元素类型、X 射线能量三大核心因素共同决定，本质是 X 射线与样品原子发生荧光激发作用的有效穿透范围。
从样品材质来看，轻元素构成的样品（如 Al、Mg、塑料、铝合金等）密度较低，对 X 射线的吸收能力弱，检测深度相对较深，通常在 50–500μm，例如铝合金零件的合金成分分析、塑料中轻元素含量筛查等场景，均能实现该深度范围内的有效检测；中重元素材质（如 Fe、Cu、Zn、钢铁、黄铜等）密度中等，X 射线穿透时会受到一定程度的吸收衰减，检测深度收缩至 10–200μm，适用于钢铁材料成分检测、黄铜中锌含量分析等工业场景；重元素材质（如 Au、Pb、Hg、贵金属、铅合金等）原子序数高、密度大，对 X 射线的吸收能力极强，检测深度仅为 1–50μm，常见于贵金属纯度检测、电子废料中铅含量筛查等需求。
此外，多层涂层或镀层样品（如金属表面镀铬、镀锌、涂漆等）的检测深度需单独考量，单一层级的检测深度通常在 1–50μm，仪器可通过分层荧光信号解析实现镀层厚度测量与基材成分分析。X 射线能量也会显著影响检测深度，能量越高的 X 射线穿透能力越强，相同材质下检测深度更深；反之，低能量 X 射线更适合表层元素检测。实际应用中，检测深度还会受仪器功率、检测时间、样品平整度等因素轻微影响，但核心制约因素仍是样品材质与元素特性，其检测范围始终局限于样品表面薄层，无法实现深层元素分析。 https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/xrf-analyzers/handheld/vanta/
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