LED光电特性量测系统
    
SEC-SM  3000  光电特性量测系统：    
    
        SEC-SM3000全自动分光分色机配有专业的光电特性量测仪，量测仪设计的自动化标准测试系统，其功能设计符合CIE的测试规范要求，适用于各式全彩LED的量测。系统以工业计算机为架构，整合了高阶的微处理器、数位／类比转换器、光谱卡与高精度的光学元件，展现出傲视业界之高正确性、高稳定性、高速量测的性能表现。

        为了满足使用者多样的需求，SEC-SM3000配备的测量仪提供了完整的光、电性测试项目供使用者弹性选择，包括Iv,  ,  x,  y,  u’,  v’,  λD,  λDstd,  λp,  λc,  Pe,  CCT,  CRI,  FWHM,  Vf,  Vr,  Ir,  If,  △Vf,  VFD,  等；软件操作上则是以WINOOWs为平台，搭配全中文化的使用界面与图像式的编辑方法，以兼顾LED量测之完整性与便利性。

        此外，独特的多用途弹性设计，配合其高速、稳定、准确的量测性能表现，相当适合与自动化机台连线使用。使用者可选配不同的测试模块，以应用于不同形式的LED量测（LED裸晶、SMD、Lamp、Piranha、LED  Display...）。随着高亮度、全彩、白光LED的快速发展，LED量测仪器的重要性也与日俱增；Y8000量测系统，其强大之功能与简易之操作界面，必能完全满足您在LED量测上的需求，并且协助您迅速取得竞争优势。

产品规格：

量测速度                单晶              双晶                                三晶
          <  35  msec        <  110  msec    <  120  msec
    (积分时间：5msec,  含极性判断及Vf,  Ir,  Iv,  λD量测)

量测项目    Iv,  Ivstd,  x,  y,  u’,  v’,  λD,  λDstd,  λp,  Pe,  CCT,  CRI,  FWHM,  Vf,  Vr,  Vz,  Ir,  If,  ΔVf,    


项目名称                驱动条件                                  量测结果
    Range    Accuracy    Range    Accuracy
Vf      0.001  ~  1,000.00  mA    ±0.4%    0.001  ~  9.000  V    ±0.4%
Vr    0.05  ~  20μA    ±0.4%    0.001  ~  9.000  V    ±0.4%
If    0.001  ~  9.000  V    ±0.4%    0.001  ~1,000.00  mA    ±0.4%
Ir    0.001  ~  9.000  V    ±0.4%    0.05  ~  20μA    ±0.4%


项目名称            光学量测(在条件B下量测稳定的LED)
            范围                                        正确性                重复性
Iv    1.00  ~  100,000  mcd    ±3%                  2%
x,  y    0.001  ~  1.000    0.002    0.003
λD    450.0  ~  630.0  nm      ±0.6  nm              0.2  nm
λp    320.0  ~  1,000.0  nm    分辨率：                1  nm