供应北京金泰科仪红外测温仪JTLSI
　　红外测温仪JTLSI的工作原理是根据物体的红外辐射强度计算出物体的表面温度。JT红外测温仪的最大特点是无需接触即可测量物体的温度。因此，它可以方便地测量难以接近或移动的目标温度。
　　红外测温仪JTLSI采用2级激光进行瞄准，可以方便地指示测量点的中心位置，并特别标志出最佳的测量距离，适合于需要精确定点测量的小目标的温度。
　　红外测温仪JTLSI提供4－20mA电流输出，可以方便地安装在多种应用场合，特别适合于需要长距离、较强干扰的工业环境的安装。
　　红外测温仪JTLSI为激光电路和测量电路提供不同的接线方式，方便用户的使用。
　　全系列的JT红外测温仪提供多种温度范围，不同的测量波长，不同的光学系数供用户选择，满足用户不同的测量要求。
　　红外测温仪JTLSI具备现场发射率调节功能，方便用户针对不同的被测目标进行现场修正，提高测量结果的有效性，真实性。
提示：使用之前仔细阅读此手册。生产商保留在技术进步时改变产品参数的权利。
基本性能
仪器型号        JTLSI
环境等级        IP65  (NEMA-4)
环境温度        0  –  60°C  
存储温度        -20  –  85°C  
相对湿度        10  –  95%（不结露）
材        料        不锈钢
尺        寸        φ45  mm  x  140  mm  
重        量        510  g    
振        动        IEC  68-2-6:    任意轴11-200  Hz.3G
冲        击        IEC  68-2-27:  任意轴11ms.

电气参数
电源                            12－24  VDC
拉电流                        最大100mA
模拟输出                        4  -  20  mA  
输出阻抗                    最大回路阻抗500Ω  （24VDC）

测量参数        
温度范围        600  –  2000°C  
光学分辨率    1µm
响应时间        10  ms  (95%)
系统精度        ±0.5  %±2°C  
重复性            ±0.5  

波长产品
用户可根据测量距离选择光学透镜。
标准透镜SF：20mm@1400mm  
近焦透镜CF：6mm@420mm  
JT标准焦距：虚线为指示激光，实线为测量光路

工作原理
红外测温基础
任何物体都有红外辐射，辐射强度随着温度的变化而变化，红外测温使用的热辐射中的波长范围为1μm－20μm。物体的辐射强度取决于物体的材料，我们用一个已知的常数来描述各种材料发射红外辐射的特性，这就是发射率（参考发射率表）。
红外测温仪是一种光电子传感器，它接收红外辐射并将其转化成可测量的电信号，主要包括以下组件：透镜；探测器，电子线路（放大器/线性化/信号处理）
透镜的规格决定了红外测温仪的光路，用距离与光斑大小的比来表示这一特性。
光谱滤波器选择与测温相关的波谱范围，探测器与电子线路一起将红外辐射的能量转变成电信号。
安装
电气连接：标准电缆长度1.5米
1    2    3    4    5
棕    黄    黑屏蔽    红    黑
输出－    输出+    屏蔽    电源+    电源－
机械安装
　　JTLSI探头带M45×1.5螺纹，可以借助螺母安装到安装支架上。在调整被测目标与传感头时必须确保光路无遮挡。
发射率设置
按下按键3秒，进入发射率参数设置状态。
　　显示窗左上角显示“E”  ，数值显示为当前发射率值，同时千分位上的数值闪烁。
每按下按键一次，千分位数值加一并循环进行。其他位数值不变。
按下按键3秒，进入发射率百分位设置，发射率数值百分位上的数值闪烁。
每按下按键一次，百分位位数值加一并循环进行。其他位数值不变。
按下按键3秒，进入发射率整数与十分位设置，发射率整数与十分位上的数值闪烁。
每按下按键一次，数值加一并循环进行，范围为0.100—1.099。其他位数值不变。
按下按键3秒，完成发射率参数修改，恢复测量状态
发射率
确定物体的发射率
　　物体向外发射的红外辐射强度取决于这个物体的温度和这个物体表面材料的辐射特性，我们用发射率（ε-Epsilon）这个参数描述物体向外辐射能量的能力。发射率的取值范围可以从0到100%。我们通常说的“黑体”是指发射率为1.0的理想辐射源，而镜子的发射率一般为0.1。如果用红外测温仪测量温度时选择的发射率过高，测温仪显示的温度将低于被测目标的真实温度——假设被测目标的温度高于环境温度。
　　低发射率（反光表面）物体由于其他外辐射的干扰或背景目标（火焰、加热系统、耐火材料）而造成的测量误差，在这种情况下减小测量误差，要非常仔细的安装并且保护探头避开反射的辐射源。
确定物体的未知发射率可遵从以下步骤：
——用其他接触式仪表确定被测物体的真实温度，然后用红外测温仪测量该物体，通过调节发射率设置，使红外测温仪显示值与物体的真实温度一致。
——对低温型测温仪，可以将被测物体的一部分表面用发射率为0.98的黑颜料涂平，将红外测温仪的发射率调为0.98，测出该部分的温度，然后测量相邻边缘的温度并调节发射率直到显示值与刚才测量的温度一致。
典型发射率
　　　当上面提到的方法都不能帮助你确定某物体的发射率时，你可以使用附表给出的发射率表。这只是平均值，实际材料的发射率取决于下列因素：
　　　－材料温度
　　　－测量角度
　　　－表面的几何形状
　　　－材料厚度
　　　－材料的表面结构(抛光，氧化，粗糙，喷沙)。
　　　－测量的光谱范围
　　　－透射率（比如薄膜）
维护
　　当您使