&Agilent4287A+16192射频LCR测试仪
东莞市银通电子仪器有限公司
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Agilent4287a的技术指标  
        测量参数：|Z|，|Y|，L，C,  R，D,  Q,  X，G，B，θ  
        测量电路形式：串联和并联  
        工作频率：1  MHz～3  GHz  
        频率分辨率：10  kHz  
        信号源特性：  
        振荡器电平：5mVrms～0.25Vrms(输出端开路)  
        电平显示单位：V，I，dBm  
        连接器：APC-3.5  
        输出阻抗(额定值)：50Ω  
        触发：内部，外部，手动和GPIB  
        阻抗测量范围：200  mΩ～3  kΩ  
        基本测量精度：|Z|:1%；D:0.01  
        测量时间：10  ms  
        接口：GPIB，处理器接口  
        显示器：8.4英寸彩色LCD显示器  
        储存：内置HDD/FDD，备用SRAM存储器  
        一般指标  
        工作温度/湿度：10～40℃/相对湿度15%～80%  
        预热时间：30分钟  
        电源要求：90V～132V,或198V～264V，47Hz～66Hz，500VA(最大值)  
        尺寸：主机：426mm(宽)×234mm(高)×446mm(长)  
        主要技术资料  
        4287A射频LCR  测试仪产品介绍，p/n  5968-5443E  
        4287A技术指标，p/n  5968-5758E  
        LCR  测试仪，阻抗分析仪和测试夹具选购指南，p/n  5952-1430E  
          
        1MHz～3GHz，以10kHz分档  
        阻抗测量范围宽，从200mΩ到3kΩ  
        在低试信号电平上具有优良的测量重复性  
        基本精度为1%  
        高速测量:10ms  
        安捷伦  4287A射频LCR测试仪在1  MHz～3  GHz频率范围可以提供精确、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。  
        生产率高、质量可靠  
        安捷伦  4287A  适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量速度非常快。此外，在小测试电流(100mA)处优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。  
        系统组建简单  
        测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件接点附近，而不会使误差有任何增大。内置比较器功能、高速GPIB接口和处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。  
        便于使用  
        8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外，若干APC-7，SMD测试夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用，从而无需制作专用夹具。