供应日本精工荧光分析仪SEA6000VX
品名    高灵敏度能量色散型X射线荧光元素分析仪

型号    SEA6000VX

概要    能量色散型X射线荧光元素分析仪是为可对应RoHS、中国版RoHS、ELV等的环境管制法规以及无铅化、无卤化分析，并能够对成份进行无破坏性迅速便捷检查的仪器。其应用领域广，加上无需液氮的卓越操作性、多种操作语言以及多种电压的对应、拥有能够实现快速测量的检测器等，尽量满足您对环境管制物质的质量管控。

特长    快速扫描测量  通过提升微小区域的测量灵敏度以及配合了高速电动平台，可快速获得二维元素扫描图像。
特别是强化了对线路板中铅的扫描测量能力，配备了铅扫描专用的滤波器。可扫描检测
出无铅焊锡中1,000ppm以下的铅。2.  宽视野高清晰度的光学系统  可获得250mm×250mm的20μm以下的高清晰度光学影像。从该光学影像可以精确指定
测量位置，仪器的操作性得到了飞跃般的提升。此外，该光学影响还能和扫描后获得的影像
进行重叠，从而实现了高精度的图像解析。3.  快速测量微小区域的微量金属  通过所配备的高密度微小X射线束和高计数率检测器，以及充分考虑到X射线荧光检测效率
的设计，实现了测量的高灵敏度。可短时间测量微小区域的微量金属或薄膜。仅需100秒左右
的时间就可检测出1mm×1mm微小区域中的有害物质4.  无需检测器的高计数率检测器  标准配备了精工纳米独自研发设计无需液氮的高计数率检测器Vortex。免去了繁琐的液氮补
给过程。开机时间也仅为短短数分钟，电子冷却系统更是值得信赖。减少了液氮在制造、运输
时产生的二氧化碳的排放，同时因为高效率的检测速度而减少了电力的消耗，是一款环保型的
仪器的因为可以在真空环境下测量，所以测量范围扩大为Na～U。（选配）。5.  连续测量  从所取得的宽视野样品观察画面到样品台上的样品可最多记录500个样品位置，可对不同
测量条件的样品进行连续测量。6.  微小区域的镀层厚度测量  只需10秒左右的时间，便可对0.2mm×0.2mm大小的Au/Ni/Cu（金/镍/铜）等薄膜多层
镀层的镀层厚度进行高精度测量。同时也可以对无铅焊锡镀层或化学镍镀层中含有的微量铅进
行分析测量。


    




SEA6000VX产品规格    
可测量元素    原子序数11(Na)～92(U)
样品形态    固体、粉末、液体
X射线源    小型空冷式X射线管球(W靶)  管电压：15kV  、30kV、40kV、50kV  管电流：1mA
检测器    Vortex®  Si半导体检测器(无需液氮)
准直器    □0.2、0.5、1.2、3.0mm(自动切换)
样品观察    彩色CCD摄像头
滤波器    6种模式自动切换
样品室    580(W)  ×450(D)  ×150(H)mm  可对250(X)×200(Y)mm范围内进行全面的点分析以及扫描分析
重量（主机）    160kg(不含电脑)
定性分析功能    能谱测量、自动辨别，比较表示，  KLM标示表示，差异表示
定量分析功能    块体FP法，块体检量线法(标准曲线法)
统计处理功能    Microsoft-EXCEL®
报告制作    Microsoft-WORD®
安装环境    温度：10℃～35℃(±)5℃  湿度：35%～80%
使用电源    AC100~120V、200~240V±10%、10A