膜厚仪回收
CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。
高性能X射线荧光光谱仪
快速精确的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大提高了灵敏度
简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素
性能优化，测量元素范围广： 可预设参数CMI900 提供800多种预设应用参数/方法
杰出的长期稳定性：
自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果
简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正
坚固耐用的设计
经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台
可以在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计
电子行业
五金电镀行业
金属合金行业
电子元件
有效调整生产过程，从而提高生产力
确保元件可靠性
测量焊料合金成份和镀层厚度
优化质量控制，从而确保产品生命周期
分析导电性镀层金和钯的厚度
测量电脑硬盘上的NiP层厚度
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