NOISEKEN原装EPS-240测试仪

5 雷击浪涌模拟试验器

 LSS-6230

 LSS-F02系列（IEC标准）

 IEC61000-4-5Ed.2试验标准概要

 LSS-720B（JEC标准）

 JEC标准概要

6 电源电压变动模拟试验器

 VDS-2002

 VDS-1007/VDS-2007

 VDS-230S/250S

 IEC61000-4-11Ed.2试验标准概要

7 衰减振荡波模拟试验器

 SWCS-931SD

 SWCS-932/S4

8 PCB板电磁波解析系统/三坐标辐射测试系统

 EPS-3007PCB板电磁波干扰源探查系统

 EPS-6000

 EPS-01A三坐标辐射测试系统

 EPS-240

9 高频接触&近场电磁抗扰度测试天线

NHHA&NTS

供应日本NOISEKEN

1 静电放电模拟试验器

 ESS-S3011>-30R

 ESS-B3011>-30R

 ESS-2000AX

 TC-815R放电仪

 ESS-801/ESS-801GL试验环境

 ZAP-1A自动放电系统

 IEC61000-4-2Ed.2试验标准概要

2 半导体器件静电放电模拟试验器

 ESS-6002/6008

3 高频噪声模拟试验器

 INS-4020/4040

 INS-AX2系列

 高频噪声模拟试验概要

4 电快速瞬变脉冲群模拟试验器

 FNS-AX3A16B/B50B

 IEC61000-4-4Ed.2试验标准概要

NOISEKEN原装EPS-240测试仪

5.美国Dytran通用力传感器

3030B4 3030B4G 3049E  3049E1   3055B2 3055B2T 3055B3 3055B3T

3049E2 3049E3  3055B1 3055B1T  3055B4 3055B5  3055B6 3055B6T

3056B1 3056B1 3056B2 3056B2T   3056B3 3056B3T 3056B4 3056B5 

3056B6 3056B7 3056M9 3100D24   3100D24T 3211A1 3211A2 3214A1 

3214A1T 3214A2 3214A2T 3214A3 3214A3T 3215M1 3234A1 

3234A2 3234A3 255A1 3255A2 3255A3 3255A4 3255A6 3256A1 

3256A1T 3256A2 3256A2T 3256A3 3256A3T 3256A4 3256A4T 3256A5 

3256A5T 3256A6 3256A6T 

66.美国Dytran三轴加速度传感器；  

3003b 3023A 3023A1 3023A1T 3023A2 3023A2H 3023A3 3023A3H 3023A4 

3023A4H 3023A5 3023A6 3023A6H 3023A9 3023AH 3023AT 3023M23 

3023M27 3023M30 3033B2 3053B 3053B1 3053B2 3093B 3093B1 

3093B1T 3093M18 3093M4 3133A1 3133A2 3133A3 3133M4 3133M5 

3133M6 3143D 3143D1 3143D1T 3143D2 3233A 3233AT 3263A1 

3263A1T 3263A2 3263A2T 3263A3 3263A3T 3263M8 3263M9 3273A1

3273A1T 3273A2 3273A2T 3273A4 3273A4T 3273M2 3293A 3313A1 

3313A1H 3313A2 3313A2H 3313A3 3313A3H 3333A1 3333A2 3333A3 

3333M1T 3333M2T 3333M3T 3343A 3343A2 3343A3 3403A 5313A 

7.美国Dytran高温加速度传感器

3030C1 3035C 3035CG 3049D 3049D1 3055C 3056C 3085C 

3088C 3092C 3122C2 3152C2 3218C 3220C 3221C 3221C2 

3224C 3235C1 3235C2 3235C3 3255C 3256C 3309A 3310A

3316C 3316C1 5334 5335

LSM-9000LE失真度检测仪

特点

1、多年来，偏光造成了许多厂家的技术问题，市场已经在投入全自动列失真检验器的方面，花费了巨大的精力。
2、LSM-9000LE是具有失真和双折射的双重特点，相位差的大小和慢轴的方位全自动，而且是二次元定量测定装置。
3、到现在为止，用失真和双折射的定量进行测定，塞拿蒙法使用的目视型的失真检验器成为主流。
4、塞拿蒙法测定者检光子次，测量部位的亮度最明亮的状态与最黑暗的状态，从而进行相位差的定量检查方式进行测定。但是，过去的目视型，测量环境和测量者不同，亮度的判断则产生了偏差。另外，相位差测定精度是目视型相比被改善了，测量部位画像中的特定的一部分被限定了。
5、并且，塞拿蒙法慢轴的方位测量不能，敏锐的颜色法的结果考虑，推测有我。
另外，二维分布来看的话，长时间数次测量的结果映射需要了。
6、本装置，直线偏光板和1/4波片组合构成了圆偏振板上试料配置，就可以开始测量。因此，熟练者和初学者是没有区别，简单的相位差的大小和慢轴的方位的定量测定等。另外，只特定的部位测量的，而是内置的CCD相机使用，每个像素单位进行测定。因此，相位差的大小和慢轴的方位监视器上2次元不能显示，它们分布状态一眼就可以掌握。
7、PC连接，所以测量数据和观察图像记录容易进行。
8、高亮度LED光源采用、寿命长、省电。光源的交换相关维修变得简易以及成本可以降低。

NOISEKEN原装EPS-240测试仪