电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力
及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的
组件，无一不需要它的理想测试工具。
产品名称：深圳BGA冷热冲击试验箱 产品型号：LX50
1、温度范围：-70--+200度；
2、冲击温度范围：-40--+150度；
3、温度波动度：±0.5
4、温度均匀性：±2
5、低温下降时间：+20至-50≤30分钟
6、高温升温时间：+20至+200≤40分钟
7、温度恢复时间：≤5分钟
8、内尺寸：（IH）360×（IW）350×（ID）400
9、内容量：50L
10、设备重量：700KG
深圳市联欣检测设备有限公司、专门从事环境模拟设备与可靠性试验设备的科研、生产、销售以及维修等服务。欢迎来厂、来电、来函咨询订购！
898995850
