Elcometer345涂层测厚仪_涂层测厚仪_广州德光电子科技有限公司

Elcometer345涂层测厚仪为应用非常广泛的仪器。具有整体式与分离式两种形式探头，可测量铁基（F）、非铁基（F）或铁基及非铁基（FNF）材料的涂层厚度，总会有一种仪器满足用户的各种要求。
该仪器按照操作者角度进行设计，使用简单。用户可自定义简单的数据统计，可复查平均值、标准偏差、读数的个数和最大、最小读数。这些统计数据可以打印输出。
?    *键盘锁住功能可防止意外事件发生，避免重新校准。
?    *mm或um与mils可相互转换
?    *整体式仪器采用"大脚"探头，性能更加稳定
?    *是平面、曲面和喷砂表面
?    *读数率快
?    *两点校准
名称    范围    分辨率    精确度*    零件号
    μm    mils    公制    英制    公制    英制
Elcometer345铁基整体    0-1500    0-60    0-20μm：
0.1μm    0-1mils：
0.01  mils    ±1-3%或±2.5μm    ±1-3%或±0.1  mils    **A345FBI1
Elcometer345铁基分离    0-1500    0-60                    **A345FBS1
Elcometer345非铁基整体    0-1500    0-60      0-20μm：
0.1μm    0-1mils：
0.01  mils    ±1-3%或±2.5μm    ±1-3%或±0.1  mils    A345NBI1
Elcometer345非铁基分离    0-1500    0-60                    A345NBS1
Elcometer345两用FNF整体    0-1500    0-60    0-20μm：
0.1μm    0-1mils：
0.01  mils    ±1-3%或±2.5μm    ±1-3%或±0.1  mils    A345FNFBI1
345两用FNF分离    0-1500    0-60                    A345FNFBS1
精确度*：按照接近所要求的厚度校准时为±1%  ，若无界定范围内的校准，则为±3%  。
FNF专利号  GB2306009B，USA  5886522

Elcometer345涂层测厚仪

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