霍尔效应测厚仪主要用于
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- 发布日期:2022/10/27 16:56:55
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详细说明
霍尔效应测厚仪
操作非常简单,将磁性探头紧靠所测材料的一面,并将一个小钢珠(靶球)放在对面就可进行测量。通过探头内的霍尔效应传感器来测量探头到小钢珠(靶球)的距离,测量值即刻以易于读取的数字厚度读数显示。具有对磁场敏感、结构简单、体积小、频率响应宽、输出电压变化大和使用寿命长等优点,因此,在测量、自动化、计算机和信息技术等领域得到广泛的应用。
霍尔效应测厚仪主要用于用于测量非铁类材料的厚度检测,采用非破坏性的测量方式,不受材料的形状影响,快速测量形状复杂和不同大小的物体的各种位置,即使是死角及沟、槽。测量时,将一个小钢珠置于测试材料的一面,并将探头置于另一面,探头的霍尔效应传感器测量出从探头至钢珠之间的距离,即时显示出厚度读数。是利用磁场作用于载流金属导体、半导体中的载流子时,产生横向电位差的物理现象。当测厚仪电流通过金属箔片时,若在垂直于电流的方向施加磁场,则金属箔片两侧面会出现横向电位差。半导体中的霍尔效应比金属箔片中更为明显,而铁磁金属在居里温度以下将呈现的霍尔效应。
如果把霍尔元件集成的开关按预定位置有规律地布置在测厚仪上,当装在运动物体上的永磁体经过它时,可以从测量电路上测得脉冲信号。根据脉冲信号列可以传感出该运动物体的位移。若测出单位时间内发出的脉冲数,则可以确定其运动速度。
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