供应比表面测定仪/纳米材料比表面测定仪
比表面的概念：
比表面是比表面积的简称。根据实际需要，比表面积分为内比表面、外比表面、和总比表面；通常未注明情况下粉体的比表面是指单位质量粉体颗粒外部表面积和内部孔结构的表面积之和，单位m2/g。
粉体材料越细，表面不光滑程度越高，其比表面越大。由于纳米材料细度很高，一般具有比较大的比表面；吸附剂催化剂炭黑等材料的效能与比表面关系密切，一定效能需要一定范围的比表面要求；但并不是比表面越大，就粉体质量越好。例如在要求粉体球形度的情况下，粒度相当的粉体材料，比表面越大，球形程度就越差。比表面和粒径（粒径一般用中位径或目数来表示）是两个概念，没有必然联系，同样目数的两个产品不等于他们拥有相同的比表面积，也依赖与其表面光滑程度和孔结构。
一、比表面测定仪适用范围：
测定比表面积专用色谱仪用于纳米材料、催化剂、净化剂、吸附剂、助滤剂、柱填料、活性炭、氧化铝、硅藻土、海泡石、稀土、硅胶、煤炭、陶瓷、石墨、电池、水泥等多种产品的分析测试；在各种固态粉体新材料的研究开发、生产控制、产品应用、物性测试工作中得到广泛应用。
二、比表面测定仪主要特点：
GC5890S型比表面积测定专用色谱仪主要特点如下：
运用迎头色谱法测定比表面，测试速度快；
修正空白值，消除系统误差，测量精度高；
采用高斯曲线一点法计算，定量快速准确。
三、比表面测定仪仪器性能：
GC5890S型比表面积测定专用色谱仪主要性能如下：
测定范围：样品的比表面积不论大小均能测定
测量精度：平均偏差≤2%
测试速度：一般样品只需几分钟
灵 敏 度：S≥10000mV.ml/mg
四、比表面测定仪定量方法：
以BET原理为依据，以色谱流出曲线服从高斯方程为基础，按“高斯曲线一点法”快速准确定量。
比表面分析仪、比表面测定仪、比表面积分析仪。
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