供应PROFILER 加速器设备检测系统
PROFILER 加速器设备检测系统
PROFILER 加速器设备检测系统单次测量可获得多个参数:
平坦度、对称性、野尺寸、射线中心点、半影宽度、光野一致性、剂量率、输出量、射线稳定性、电子能量验证、光子线楔形角度计算、脉冲计数、剂量/脉冲、脉冲/秒，等参数 。
PROFILER 加速器设备检测系统性能参数：
探测器类型：半导体二极管
探测器数量：139个，X轴57个，Y轴83个
探测器间距:4.0毫米
探测器宽度:0.8毫米
探测器有效体积:0.000019立方厘米
探测器灵敏度:32.0nG／Gy
噪音/信号:0.15%
采样频率:100.00ms
探测器稳定性:在6MV时的 变化为0.5%/kGy
剂量率限制:56.0Gy/分钟
照射野尺寸:22.4X32.8厘米
固有建成厚度：1.0克/平方厘米
上层材料:等效水
背散射厚度:2.0克/平方厘米
辐射测量:电子线4MeV-25MeV 光子线:钴60-25MV
尺寸:6.0X25.6X52.0厘米
PROFILER 加速器设备检测系统重量:5公斤
PROFILER 加速器设备检测系统设置快速，无需预热，单次测量可获得多个参数。
*您的姓名：
*联系手机：
固话电话：
E-mail:
所在单位：
需求数量：
*咨询内容:
898995850
