镀层测厚仪波谱校正片,牛津电镀层膜厚仪波谱片
镀层测厚仪X-Strata920 、 CMI900 专用波谱校正片
镀层测厚仪X-Strata920工作特点：
l 测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin
l 快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果
l 可定性、半定量和定量分析
l 进行贵金属检测，如Au karat评价
l 材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析
l 强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图
l 结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等
l 测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍
l 激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦
*您的姓名：
*联系手机：
固话电话：
E-mail:
所在单位：
需求数量：
*咨询内容:
898995850
