瑞典XCounter 双能探测器
光子计数 直接转换 能量分辨
?XCounter 采用CdTe作为直接转换X射线探测器的转换材料
?直接转换X射线探测器具有更好的空间分辨率
?可获得更小细节的清晰图像
?动态范围大，这对于获取整幅图像非常重要
?光子计数，具有更高的灵敏度，可在非常低的剂量下工作
?采用双能曝光，具有区分材料的能力
双能
? XCounter具有能量分辨能力，可以分辨出不同的材料
? 一次X射线获取，可记录两种不同能量的X射线吸收剂量
? 利用不同组织和骨骼的吸收剂量的不同的特点，可以从图像
中把它们区分出来
? 使得XCounter在医疗和工业领域独具特色
? 独特的卖点
独特的传感器
瑞典XCounter 双能探测器
产品描述 FX系列
物理参数
尺寸 （L×W×H）
XC-FLITE FX1：23.1×13.1×6.0 cm
温度控制
内部的珀尔帖效应温度控制
环境温度
+10 - +40℃
储藏温度
-10-+60℃ @ 10% to 95% 湿度
射线窗
碳纤维， 厚500μm
射线屏蔽
根据应用
传感器
传感器数量
FX1：1 FX2：2 FX3：3
传感器类型
双能光子计数 CdTe-CMOS
传感器厚度
0.75mm-2.0mm CdTe
有效面积
FX1：154.7×12.8mm (1536×128像素)
像素
100μm
像素填充率
100%
性能
帧率
最高1000 fps（也可选择时间延迟求和模式）
动态范围
12 bits
图像面元
1×1，2×2，4×4
成像时间
100μs-5s
DQE（0）
85%@RQA5 spectra
MTF
＞80% @ 2lp/mm
管KV范围
15-250kVp
内部测试图样
Pseudo-random debug pattern
外部触发输出
3.3V TTL
输入
5V
滞后
0%
拖影
＜0.1% X射线开启后1分钟，（12μGy）
分辨率和DQE曲线 （反符合开CC on和闭CC off）
瑞典XCounter 双能探测器
产品描述：PDT25-DE
瑞典XCounter 双能探测器
产品描述X 系列
瑞典XCounter 双能探测器
XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。
引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE FX系列产品的先进之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。
集成
XC-FLITE FX系列，通过GigE接口将XC-FLITE FX系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE FX的功能；可用在WINOOWs XP、Vista、WINOOWs7和WINOOWs8系统平台
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*工业检测（NDT）
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*兼容WINOOWs操作系统，从XP到WINOOWs8
*绑定强大的可编程的开发软件
基本参数
XC-FLITE FX2：38.6×13.1×6.5 cm
XC-FLITE FX3：54.0×13.1×6.5 cm
FX2：309.4×12.8mm (3072×128像素)
FX3：464.1×12.8mm（4608×128像素）
Detective Quantum Efficiency
Modulation Transfer Function
＞45% @ 5lp/mm
紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，PDT25-DE是一个小视场探测器，适用于潜在宽泛的能量范围。
PDT25-DE可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。
引进反符合技术的双能采集功能，是PDT25-DE先进之处，在双能采集过程中，探测到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。采用反符合技术，可以确保将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。
集成
通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有PDT25-DE的功能；可用在WINOOWs XP、Vista 、WINOOWs7和WINOOWs8系统平台上。
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*反向散射成像
*工业检测（NDT）
特点和优势
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*兼容WINOOWs操作系统，从XP到WINOOWs8
*绑定强大的可编程的开发软件
XC-FLITE X1、X2、X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式，扫描速度最高90mm/s。
引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE X系列产品的先进之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。
所有精心设计的运动部件需要在XC-FLITE X系列的内部自动控制，整个扫描过程是透明可见的。
集成
XC-FLITE X系列，通过GigE接口将XC-FLITE X系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可用在WINOOWs XP、Vista、 WINOOWs7和WINOOWs8系统平台
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*工业检测（NDT）
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*自扫描设计，透明可见
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*扫描速度最高90mm/s
*兼容WINOOWs操作系统，从XP到WINOOWs8
*绑定强大的可编程的开发软件
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