贵金属检测仪
贵金属检测仪X-3680A
博智伟业X-3680A便携式贵金属检测仪
博智伟业  电话：零二二-二三八五八一七八  中国最早的黄金检测系统开发公司!为您提供最优质的服务!  
我公司专业生产的贵金属检测仪，贵金属检测仪拥有这非常好的口碑，我们的客户主要是金店，典当行，质检机构，全国大部分质检机构全部使用的我公司生产的贵金属检测仪，欢迎广大客户来电咨询，我们会给您最放心的产品和最优质的服务
X-3680A贵金属检测系统
贵金属检测仪X-3680A是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，高分辨率数字一体化X-123半导体探测系统，多种准直器与滤波片，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，  正是它大有作为之处.
其高分辨率数字一体化X-123半导体探测系统，完全保证了符合中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会2008年12月31日发布2009年7月1日实施GB/T  18043--2008最新标准对X射线荧光光谱分析仪：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少为200eV标准要求。并且其分辨率大大优于“至少为200eV标准要求”。
仪器检测能力强，分辨率高，适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al（13号元素）到U（92号元素）。无损分析迅速，无需制样，测试时间从几秒到几分钟可调，检测精度从1PPM级到万分级。
X-3680A贵金属检测系统整体技术参数与指标
分析元素范围：从铝（13号元素）到铀（92号元素）
元素分析含量范围：1ppm到100%
元素同时分析能力：35种元素
测量样品型态：固体，粉末，液体
探测器：美国AMPTEK原装进口高分辨率数字一体化X-123半导体探测系统，探测面积6mm2分辨率小于139eV，峰背比高，检测精度更高。
X光管：  自动水制冷系统，对各种元素激发效率更高
高压电源：最大功率50W，50kV,1mA
显示：配备高清液晶显示屏。
滤波片：6种滤波片与4种准直器自由自动切换。
密度检测系统：密度检测仪及检测软件一套，可以对样品的密度进行准确分析鉴定，从而实现对未知样品内部材料的定性定量分析（本系统具有唯一专利性）
镀层检测：仪器可对不同基体上的不同金属镀层进行多层检测，并得出准确结果（使用者可以根据需求进行二次开发）
样品成像定位系统：内置自动感光高像素摄像头及先进的定位软件，方便样品的局部定位测量
测量精度：以黄金样品为例
高含量样品  （含量在97%以上）误差<±0.1%
中高含量样品（含量在75%以上）误差<±0.1%-0.3%
低含量样品  （含量在75%以下）误差<±0.3%
可准确检测黄金99.9%与99.99%的样品。
加压：自动加载高压电流，自动预热并校正峰位，省去繁琐的操作。
测量时间：60秒到180秒可调，一键式快速测量3.5秒可出结果
测量次数：任意可调，且在多次测量时可做平均值及标准偏差测量
峰位：峰位稳定性高，8小时漂移小于0.5道。
定量分析方法：基本参数法，理论Alpha系数法，经验系数法，多元回归法等。其中基本参数法是在国内同行业率先采取此类综合计算方法。
定性分析方法：元素自动寻峰，Kl谱线标记法，峰谱比对法等
操作软件：开放的可供客户自行开发和升级的工作软件，使一机多能。
操作模式：一键式操作全电脑控制与人工选择测试方法两种测试模式，满足不同测试单位和测试人员的要求。一键式操作全电脑控制可自动判断被测贵金属的种类，省去人为判断的过程，提高了测量时间及有可能出现人为误判，进而大大提高了测量效率。
银铜双峰位校准：银，铜双峰位同时校准，使仪器校准更加精准，随时修正工作曲线，使测量结果达到最高精度（同行业中唯一采取此校准方法）
三重防辐射系统：配备光电快门装置，更换样品时X光管自动切断电压电流；样品仓打开，X光管快门自动闭锁；仪器多层屏蔽舱盖，有效防止X射线外溢（同行业中唯一采取三重防辐射系统）
温度控制系统：内部风冷水冷双循环冷却，最大限度降低X光管工作温度延长光管使用寿命，且保证仪器长时间工作稳定，测量精度准确
硬件结构：仪器双箱体结构，有效屏蔽干扰，增加仪器整体稳定性
超大样品仓：方便大型样品的检测
测试报告：测试报告根据客户要求独立设计
其他应用：增加ROHS、卤素等有毒有害物质的检测程序及贵金属有毒有害元素的检测程序。
29.  精确测量黄金铂金当中的铱元素，可测量1%左右的铱含量，领先国内竞争对手
X-3680A贵金属检测系统硬件技术规格
1.外型尺寸：520mm×465mm×320mm
2.可测试样品大小：关仓测量：330mm×345mm×80mm，开仓测量：无限大
3.仪器重量：50公斤
4.工作环境温度：10—30℃
5.工作环境相对湿度：≤80%
6.元素分析范围：铝（Al）——铀（U）
7.含量分析范围：1PPM——100%
8.测量时间:60秒到180秒可调，一键式快速测量3.5秒可出结果。
9.激发源：自动水制冷系统，低功率X射线管（W靶）
10.高压电源：最大50KV，1mA
11.探测器：美国Amptek原装进口高分辨率全数字一体化X-123探测器