半导体分立器件主要包括二极管(Diode)、三极管(BJT)、晶闸管(SCR)、场效应晶体管(MOSFET)、绝缘栅双极性晶体管(IGBT)等产品,iv测试仪+半导体分立器件I-V曲线扫描仪认准生产厂家武汉普赛斯仪表，普赛斯五合一高精度数字源表（SMU）可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具，接线简单、方便操作，详询一八一四零六六三四七六；
半导体特性曲线分析仪+IV扫描曲线图：
利用数字源表简化半导体分立器件特性参数测试
丰富的半导体IV特性测试行业经验；
全面的解决方案：二极管、MOSFET、BJT、IGBT、二极管电阻器及晶闸管等；
提供适当的电缆辅件和测试夹具……
普赛斯S系列数字源表优点：
同时精确提供和测量电压和/或电流；
同步测量，减少测试时间
提供和测量非常广的电流和电压；
电压测试范围30uV-300V,电流测试范围1pA-1A
支持运行用户脚本程序，无需电脑控制，提高生产测试速度；
序列测试，简化操作，降低成本
采用用户熟悉的图形界面，不管用户经验是否丰富，使用起来都非常简便；
触屏操作
与传统电源比：
电源过零需要改变线连接方式；
增加需反复开关机械开关，降低了设备可靠性
电压电流限制精度有限；
电压1%，电流10mA
与电源结合万用表组合比：
万用表电源组合需要编程实现设备控制及同步；
复杂连线、编程开发
电源限压限流性能差
限压限流精度低，瞬态特性也无法保证
有关iv测试仪+半导体分立器件I-V曲线扫描仪的更多信息，找普赛斯仪表为您解答，详询一八一四零六六三四七六；
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