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Hi-Q光学测试测量系统 

  • 价 格: 面议 /
  • 供 应 地:
  • 发布公司:长春市海洋光电有限公司
  • 产品型号:
  • 品 牌:
  • 发布日期:2021/10/26 10:08:36
  • 联系人QQ:2218645968 点击这里给我发消息

详细说明

产品说明Explain

公司简介Content


产 品 说 明

美国OEwaves公司的HI-Q光学测试测量系统提供了完全自动化地测量连续激光器或激光光源的超低相位噪声测量。这个光学测试测量系统能够快速地测量激光相位噪声,评估其线宽的半高宽度低至< 3 Hz,而无需复杂的测试架构和参考激光即可作这样的窄线宽测量。

该系统在宽带测量方面是的,它不要求另外的低噪声参考激光光源。该系统操作简单、方便、快速、精度,且无需附加额外的测试设备。这一无二的超低相位/频率噪声分析仪可扩展到不同的输入波段,并用于低相对强度噪声测量。

 

特点

超低相位/频率噪声测量

快速实时测量

即刻和扩展的FWHM线宽分析

需要低噪声参考光源

用户友好界面

简单的基于PC的操作

? 3U x 19英寸机架系统

可定制的配置、升级和选项

 

光学测试测量系统

型号

OE4000

波长

1530 – 1565 nm

动力学范围

60dB

光学输入功率范围

+5 to +15 dBm (PM-FC/APC)

测量类型

频率噪声/零差相位

数据存储与I/O

HDD / USB端口

带宽分辨率

0.1 Hz – 200 kHz

电源电压

110 / 120 or 220 / 240 Vac ; 50 / 60Hz

光学测试测量系统尺寸

3U x 19英寸机架式

低或高输入功率范围

可选

波长范围(可选)

740 – 935 / 965 – 1065 / 1000 – 1100 / 1260 – 1360 / 1530 – 1625 / 1950 – 2150 (nm)

(选择多波长范围以及定制波长范围请咨询)

 

可选择的配置

630 nm  -  2200 nm范围内多个输入波段

超低噪声基底

相对强度噪声测量

扩展的偏移频率范围可达2 GHz

扩展的输入功率范围

远程操作

性能和频率

定制范围选择和升级


卖家名片Cards

卖家名片

长春市海洋光电有限公司

联系人:杨淑君()

手机:13944855190

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电话: 传真:

旺铺

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长春市海洋光电有限公司

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  • 认证类型:企业认证
  • 企业证件:已通过企业认证 [已认证]
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  • 主营产品:光谱测试仪器 光学精密机械 光学元件 探测器 生物分析仪器
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