静电可以损害USB接口,造成USB集成电路故障,***糟糕的是会在电子系统中产生数据位重影。 这些损害和故障造成电子设备的"硬性损伤"或元器件损坏。虽然对于硬性损伤我们可以很容易地更换失效的元器件,并使系统重新纳入正轨,但是,假如发生了“软性损伤”(CMOS元件性能降级),此时系统会不断产生不规则的数据位,要花费数小时来进行故障排查,并且依靠重复测试也很难发现系统异常,因此针对USB元件的ESD防护已经迫在眉睫。

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DFN1006封装ESD静电二极管 |
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PESDLC2FD3V3B |
PESDLC2FD3V3U |
PESDLC2FD5VB |
PESDLC2FD5VU |
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SOP-8封装ESD静电二极管 |
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SLVU2.8-4.TBT |
SLVU2.8-8.TBT |
ESDSLVU2.8-4 |
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SOT-23-6封装ESD静电二极管 |
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SRV05-4.TCT |
ESDSRV05-4 |
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SC70-5L封装ESD静电二极管 |
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SMF3.3.TCT |
SMF05C |
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SOT-143封装ESD静电二极管 |
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SR05.TCT |
SR3.3.TCT |
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SOD-923封装ESD静电二极管 |
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ESD9X5V-2/TR |
ESD9B5V-2/.TR |
ESD9B5VL-2/TR |
ESD9N5V-2/TR |
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ESD9X3.3ST5G |
ESD9X5.0ST5G |
ESD9X12ST5G |
LESD9D5.0CT5G |
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LESD9L3.3CT5G |
LESD9L5.0CT5G |
LESD9D3.3CT5G |
SES5VD923-2B |
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ESD9D5.0C |
ESD9X5VA-2/TR |
ESD9X7V-2/TR |
ESD9L5.0C |
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SOD-882封装ESD静电二极管 |
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LESD8D3.3CT5G |
LESD8D5.0CT5G |
LESD8L3.3CT5G |
LESD8L5.0CT5G |
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ESD8L5.0CT5G |
ESD8D5.0CT5G |
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SOD-323封装ESD静电二极管 |
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SD03C.TCT |
SD05C.TCT |
SD08C.TCT |
SD12C.TCT |
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SD15C.TCT |
SD18C.TCT |
SD24C.TCT |
SD36C.TCT |