日置C测试仪3506-10|日置电容测试仪3506-10

日置C测试仪3506-10又称日置电容测试仪3506-10对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试

模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量

提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度

1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量

根据BIN的测定区分容量

日置C测试仪3506-10|日置电容测试仪3506-10输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件。注RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。

日置C测试仪3506-10|日置电容测试仪3506-10基本参数

测量参数 C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)

测量范围 C:0.001fF～15.0000μF

D: 0.00001 ～ 1.99999

Q:0.0 ～ 19999.9

基本精度 (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013

测量频率 1kHz, 1MHz

测量信号电平 500mV, 1V rms

输出电阻 1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)

显示 LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)

测量时间 1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz

机能 BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C拒绝功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口

电源 AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 醉大40VA

体积及重量 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg

日置C测试仪3506-10|日置电容测试仪3506-10附件电源线× 1, 电源备用保险丝× 1，使用说明书× 1

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